UV759S紫外可見分光光度計

簡要描述：

波長范圍：190nm-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示(數據、圖譜)；具有掃描功能；自動調“0%T"“100%T"、濃度線性回歸、記憶儲存功能,；自動8聯(lián)樣品架；可進行光譜掃描

更新時間：2024-07-30

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UV759S紫外可見分光光度計
技術指標：
◆波長范圍：190nm～1100nm
◆波長zui大允許誤差：±0.5nm
◆波長重復性：≤0.2nm
◆光譜帶寬：2nm
◆雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定）
◆透射比測量范圍：0.0%（τ）～200.0% （τ）
◆吸光度測量范圍：-0.300（A）～3.000（A）
◆透射比zui大允許誤差：±0.3%（τ）
◆漂移：≤0.001A/h（開機2h后，500nm處）
◆透射比重復性：≤0.15%（τ）
◆基線平直度：±0.002A（200nm～1050nm）
◆噪聲：100%（τ）噪聲≤0.15%（τ） 0%（τ）噪聲≤0.10%（τ）
◆掃描速度；快、中、慢
◆環(huán)境溫度：5℃～35℃
◆環(huán)境濕度：≤85%
◆工作電壓：AC220V±22V 50Hz±1Hz
◆額定功率：200W
◆主要配套件：熱敏繪圖儀（759S型配備）

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